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光谱干涉_白光干涉_膜厚测量_纳米膜厚测量 光谱干涉传感器HCI-500系列
光谱干涉测量传感器基于薄膜干涉原理,薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光,折射光经薄膜下表面反射,又经上表面折射后得第二束光,这两束光在薄膜的同侧,由同一入射光振动分出,是相干光,属分振幅干涉。当由一组波长组成的白光入射到薄膜上时,某些波长的光被增强,而某些波长的光则被减弱。通过对混合的两个波前产生的光干涉条纹进行光谱分光,测算干涉信号的频率光谱,计算解析出被测样品的厚度(或层间隙)。
纳米膜厚测量 光谱干涉传感器