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产品分类 / PRODUCT

纳米膜厚测量 光谱干涉传感器

描述:光谱干涉测量传感器基于薄膜干涉原理,薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光,折射光经薄膜下表面反射,又经上表面折射后得第二束光,这两束光在薄膜的同侧,由同一入射光振动分出,是相干光,属分振幅干涉。当由一组波长组成的白光入射到薄膜上时,某些波长的光被增强,而某些波长的光则被减弱。通过对混合的两个波前产生的光干涉条纹进行光谱分光,测算干涉信号的频率光谱,

  • 产品型号:HCI-500系列
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-04-27
  • 访问量:518
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

光谱干涉_白光干涉_膜厚测量_纳米膜厚测量 光谱干涉传感器HCI-500系列

光谱干涉测量传感器基于薄膜干涉原理,薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光,折射光经薄膜下表面反射,又经上表面折射后得第二束光,这两束光在薄膜的同侧,由同一入射光振动分出,是相干光,属分振幅干涉。当由一组波长组成的白光入射到薄膜上时,某些波长的光被增强,而某些波长的光则被减弱。通过对混合的两个波前产生的光干涉条纹进行光谱分光,测算干涉信号的频率光谱,计算解析出被测样品的厚度(或层间隙)。

纳米膜厚测量 光谱干涉传感器





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